Ein automatisiertes Prüfverfahren zur Kontrolle von Leiterkarten im bestückten und/oder unbestückten Zustand. Im Bereich der Leiterplattenfertigung wird dies auch als E-Test bezeichnet. Bei dieser Prüfung werden verschiedene, zuvor definierte Testpunkte angefahren und mit Prüfnadeln kontaktieren, so dass entsprechende Messungen möglich sind. Für diese Verfahren ist es auch von entscheidender Bedeutung, dass bereits während der Entwicklung und des Layout ausreichend und sinnvoll gewählte Testpunkte definiert und eindesignt werden.